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[复习指导] 2011年口腔执业医师考试辅导:牙周探诊的检查内容

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发表于 2012-8-19 20:40:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
 1.探诊深度(PD)
  指龈缘至袋底或龈沟底的距离。以㎜为单位记录。健康牙龈的龈沟探诊深度不超过2~3mm.用标准的259力探诊,在健康状态下探针可进入结合上皮;有炎症时探针会超过结合上皮。进入炎症区达健康结缔组织冠方。经治疗后,结缔组织中炎症细胞浸润消失,胶原纤维新生,使结缔组织对探诊的抵抗力增强,探针不再穿透进入结缔组织中,而是中止在结合上皮内。
  2.附着水平(AL)
  指袋(沟)底至釉牙骨质界的距离,也称临床附着水平(CAL)。附着水平的确定是将探诊深度减占釉牙骨质界至龈缘的距离,以㎜为单位记录;若有龈退缩,则是将探诊深度加上龈退缩的距离。
  附着水平是反映牙周组纵破坏程度的重要指标之一,有无附着丧失是区分牙周炎与牙龈炎的重要指标。正常的牙龈附着于釉牙骨质界处,不能探到釉牙骨质界,即无附着丧失;患牙龈炎时,牙龈附着的位置不变,仍在釉牙骨质界处,即使因牙龈肿胀而导致探诊深度增加,临床上同样不能探到釉牙骨质界,无附着丧失;牙周炎时因有附着丧失,则能探到釉牙骨质界。附着水平对制定治疗计划、确定手术与否及手术方案的制订、估计预后、及判断疗效均有意义。
  3.探诊后出血
  探诊出血这一指标不能作为病情进展的指标,是探诊后不出血却可以作为牙周组织处于稳定阶段的较好指标。如果多数部位都存在探诊出血,可以预示有可能附着丧失在进展,它是附着丧失加重的重要危险指标之一。
  4.龈下牙石
  龈下牙石是沉积于龈缘之下、附着在龈沟或牙周袋内的牙面上,用探针才能检查到。
  5.根分叉病变的探查
  用普通的弯探针或专门设计的Nabers探针探查多根牙的分叉区。检查上颌磨牙时,先探查颊侧中央处的根分叉区,再从腭侧分别探查近中和远中的根分叉区,但有的会有变异,需从颊侧探入;检查下颌磨牙时,从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区。探查的内容应包括:探针能否水平方向探入分叉区,水平探入的深度,分叉的大小,有无釉质突起,根柱的长度,根分叉区是否有牙龈覆盖,注意检查根分叉区是否暴露。
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