2012口腔执业医师考试辅导：根分叉病变的探查

会计考友

　　用普通的弯探针或专门设计的Nabers探针探查多根牙的分叉区。检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区，再从腭侧分别探查近中和远中的根分叉区，但有的会有变异，需从颊侧探入；检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区。探查的内容应包括：探针能否水平方向探入分叉区，水平探入的深度，分叉的大小，有无釉质突起，根柱的长度，根分叉区是否有牙龈覆盖，注意检查根分叉区是否暴露。